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TESCAN CLARA

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE ULTRA ALTA RESOLUCIÓN UHR SEM CON TECNOLOGÍA BRIGHTBEAM

El TESCAN CLARA es un FESEM ideado para satisfacer las necesidades más exigentes de calidad de imagen y microanálisis de muestras que surgen de manera rutinaria en los diferentes campos de investigación y tecnología. Los investigadores pueden ahora beneficiarse de todas las ventajas que ofrece la ultra alta resolución libre de campo generada por la columna BrightBeam™.


El CLARA ofrece una excelente calidad de haz en todo el rango de corrientes de haz y con un rendimiento de imagen de primera clase y un contraste excepcional a bajas energías.


- Caracterización sin compromisos de todo tipo de materiales a nanoescala.


- Ideal para la caracterización de materiales a bajas energías de haz para una topografía superficial máxima.


- Excelente imagen de muestras sensibles al haz y no conductoras.


- Configuración completamente automatizada del haz de electrones: las condiciones óptimas de imagen están garantizadas por la tecnología exclusiva In-Flight Beam Tracing ™.


Características principales

· BrightBeam™ - nueva columna MEB equipada con un lente objetivo electrostático-magnético y diseño de 70° que brinda máxima versatilidad

· Imágenes de ultra alta resolución libre de campo que resulta en una máxima versatilidad de escaneo imágenes y análisis, incluido el análisis de muestras magnéticas y escaneo simultaneo de imágenes MEB durante operaciones de FIB
Nueva plataforma de software TESCAN Essence

El nuevo Essence™ hace el escaneo de imágenes más fácil que nunca.

Principales beneficios:
· ​Interfaz de usuario simplificada con acceso rápido a las funciones principales
· ​Interfaz de usuario simplificada con acceso rápido a las funciones principales
· Compatible con entornos multiusuario
· Máximo control en aplicaciones
· Modelo de colisión 3D para una mejor protección durante la manipulación de muestras 
· El nuevo sistema de detección incluye el detector Axial en haz y el Multidetector los cuales permiten recolectar electrones de acuerdo al ángulo de emisión y su energía. De esta manera, se tiene un control total sobre la sensibilidad al escanear la superficie de la muestra además de que es posible explorar con diferentes contrastes lo permite obtener mayor información de la muestras bajo estudio

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