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EL TESCAN MIRA es La cuarta generación de microscopio electrónico de barrido (SEM) con fuente de emisión de campo FEG Schottky, combina imágenes SEM y análisis de composición elemental en vivo en una sola ventana del software Essence ™. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos morfológicos y elementales de la muestra, lo que convierte al MIRA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección de materiales de rutina en laboratorios de control de calidad, para la investigación o para la detección y análisis de fallas.
- Plataforma analítica con TESCAN Essence ™ EDS totalmente integrado, que combina de manera eficiente imágenes SEM con análisis de composición elemental en una sola ventana del software Essence ™.
Imágenes óptimas y condiciones analíticas inmediatamente disponibles gracias al exclusivo diseño óptico sin aperturas de TESCAN con tecnología In-flight Beam Tracing ™.
- Navegación SEM precisa y sin esfuerzo en la muestra desde aumentos tan bajos como 2 × sin la necesidad de una cámara de navegación óptica adicional debido al diseño exclusivo Wide Field Optics ™.
Modo SingleVac ™ especial para observar muestras sensibles al haz y evitar la acumulación de cargas en muestras no conductoras sin necesidad de metalizar.
- Software Essence ™ intuitivo y modular diseñado para un funcionamiento sin esfuerzo independientemente del nivel de experiencia del usuario.
- Garantizada la máxima seguridad de los detectores y accesorios montados en la cámara cuando la platina y la muestra están en movimiento con el sistema de seguridad Essence ™ 3D Collision.
- Configurable a medida de sus necesidades con detectores en columna opcionales, incluida la tecnología de desaceleración del haz para mejorar el rendimiento de las imágenes a voltajes de aceleración más bajos.
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Verdadera plataforma analítica modular que puede equiparse opcionalmente con la más amplia selección de detectores totalmente integrados (por ejemplo, CL, espectrómetro BSE refrigerado por agua o RAMAN).
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