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SEM/STEM
La microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) es una combinación de SEM y TEM: es decir, se obtiene una imagen de transmisión utilizando un método de barrido. Un TEM se puede modificar en un STEM mediante la adición de un sistema que escanea un haz enfocado a través de la muestra para formar la imagen. También se puede disponer de un STEM muy básico instalando un detector de transmisión en un SEM.
Al igual que el TEM, el STEM requiere muestras muy delgadas y analiza principalmente los electrones de haz transmitidos por la muestra. Una de sus principales ventajas sobre TEM es que permite el uso de otras señales que no pueden correlacionarse espacialmente en el TEM.
Detector HADF R_STEM y portamuestra STEM multiple.
En este caso hablamos de la posibilidad de dispone de imagen STEM en un SEM . Sería la forma de STEM más sencilla posible pero nos puede resultar muy útil completar el resto de imágenes SEM como una imagen en transmisión
Estos detectores en transmisión nos resultar muy bien para ir monitorizando y comprobando el estado de las lamelas que hemos preparado con un FIB sin necesidad de interrumpir el proceso para observarlas en un TEM
En el SEM / STEM trabajamos a bajas tensiones de aceleración pero podemos lograr resoluciones subnanométricas (0,6 nm), lo que lo convierte en una alternativa muy eficiente desde el punto de vista económico a un TEM / STEM.
La morfología de las nanopartículas utilizadas en la investigación de la administración de fármacos visualizada por el detector R-STEM a 30 keV
• Observación de múltiples muestras sin romper el vacío de la cámara
• Adquisición simultánea de señales de campo claro (BF), campo oscuro (DF) y campo oscuro de ángulo alto (HADF) que brindan información valiosa, como el contraste de orientación de difracción de Bragg y el contraste del material.
• Elevación y descenso de la altura de la muestra en relación con el detector para alcanzar las mejores condiciones de imagen
• Inclinación de la muestra independientemente del detector
• Geometría mejorada de los portamuestras para análisis EDX
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