Rendimiento 4D-STEM diferenciado

El rendimiento de las capacidades 4D-STEM de TESCAN TENSOR está respaldado por una sincronización ultrarrápida y precisa del escaneo con imágenes de difracción (de electrones directos), adquisición EDS, precesión del haz de electrones, supresión del haz y análisis y procesamiento en tiempo real de los datos adquiridos. 

Esto ha sido posible integrando componentes y técnicas de última generación “desde cero”: 



• Píxel híbrido, detección directa de electrones (DED)
• Vacío casi ultraalto dentro del área de muestra (cerca de UHV)
• Difracción de electrones de precesión (PED)
• Supresión de haz rápida e integrada 
• EDS de gran ángulo sólido, simétrico y sin ventanas
• Análisis y procesamiento 4D-STEM en tiempo real (Explorar)

TENSOR TESCAN: Un STEM tan fácil de usar como un SEM

Los científicos, ingenieros, técnicos y estudiantes han querido durante mucho tiempo una solución TEM que sea fácilmente utilizable sin semanas o meses de capacitación en ajustes y alineaciones electro-ópticas no productivas. TESCAN TENSOR le permite dedicar su tiempo al microscopio interactuando con su muestra, en lugar de hacerlo con la óptica. Esto se logra mediante la implementación de “mediciones” con propiedades ópticas preestablecidas, como corriente del haz, ángulo de convergencia, tamaño del punto y precesión activada o desactivada, ajustadas y alineadas automáticamente. 

El resultado: un 4D-STEM analítico que es tan fácil de usar como los SEM TESCAN, con toda la eficiencia y los beneficios económicos de un microscopio electrónico basado en resultados.



Este enfoque también puede generar beneficios económicos, como una mejor accesibilidad para los usuarios novatos, lo que conduce a una mayor utilización de las herramientas y respalda el retorno de la inversión.