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el SEM de sobremesa de próxima generación
Un verdadero microscopio electrónico de barrido de mesa analítico.
NANOS ofrece imágenes SEM a un bajo costo de propiedad para imágenes de alta resolución y espectroscopia de dispersión de energía (EDS) integrada para un análisis elemental rápido. Está diseñado para una fácil instalación, facilidad de uso y fácil mantenimiento.
Magnífica resolución
SEM accesible para todos, en todas partes.
El NANOS es un microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesa completo y asequible. Está diseñado utilizando la última tecnología, brindando imágenes SEM y análisis elementales rápidos y de alta calidad. Su diseño es robusto y moderno, lo que lo hace perfecto para investigación y desarrollo, uso educativo e industrial.
Configuración
El NANOS se entrega con BSD, SED, EDS integrado y una platina de inclinación eucéntrica.
Diseño
El NANOS tiene un diseño moderno y robusto y está diseñado con los últimos materiales y componentes.
Servicio
El diseño NANOS permite un fácil acceso para mantenimiento y actualizaciones que se pueden completar en sus instalaciones.
Robusto
Con una excelente estabilidad y un tamaño reducido, la arquitectura del NANOS garantiza que se pueda utilizar en entornos que no sean de laboratorio.
Facilidad de uso
En modo BÁSICO, NANOS producirá resultados en un corto período de tiempo, independientemente de la experiencia. El modo AVANZADO proporciona funciones adicionales para un análisis detallado.
Coste de propiedad
El NANOS ha sido diseñado para mantener el costo de propiedad más bajo que cualquier SEM de mesa disponible actualmente.
Diseño holandés icónico
Diseñado y fabricado en los Países Bajos, todo es cuestión de fiabilidad, calidad y facilidad de uso.
ESPECIFICACIONES GENERALES
| SOFTWARE | Óptico | Rango de ampliación: 2 – 12x |
|---|---|---|
| SEM | Rango de ampliación: 50 - 200.000x | |
| Resolución | <10 nanómetro | |
| ILUMINACIÓN | Óptico | Campo Claro |
| SEM | Fuente termoiónica optimizada (tungsteno) | |
| Tensiones de aceleración | Predeterminado: 1, 2, 5, 7, 10, 15 y 20 kV | |
| Rango ajustable entre 1 y 20 kV | ||
| DETECTOR | Detector de electrones secundario (SED) | |
| Detector de espectroscopia de dispersión de energía (EDS): integrado | ||
| DETECCIÓN DE IMAGEN DIGITAL | Óptico | Cámara de navegación en color |
| FORMATOS DE IMAGEN | JPEG, TIFF, PNG, BMP | |
| INTERFAZ DE USUARIO | La comunicación, las imágenes y el análisis utilizan un único monitor con control mediante un mouse y un teclado inalámbricos. Control remoto (por ejemplo, iPad) habilitado Modos básico y avanzado | |
| ALMACENAMIENTO DE DATOS | Red, USB, estación de trabajo | |
| ETAPA DE MUESTRA | Platina de inclinación eucéntrica (-15 hasta +40 ̊) | |
| X, Y motorizados controlados por ordenador: 25 x 25 mm | ||
| TAMAÑO DE LA MUESTRA | Muñón de pasador de 25 mm de diámetro | |
| Disco redondo de 60 mm de diámetro. | ||
| ESPECIFICACIONES DEL EDS | Tipo de detector | Detector de deriva de silicio (SDD), refrigerado termoeléctricamente |
| Área activa del detector | 30mm2 _ | |
| Resolución energética | @ Mn Kα < 133 eV | |
| Máx. tasa de conteo de entrada | 300.000 cps | |
| Integración de hardware | Totalmente integrado | |
| SOFTWARE | Integrado en la interfaz de usuario de NANOS | |
| Análisis y mapeo de EDS. | ||
| Funciones de exportación | ||
| ESPECIFICACIONES DEL SISTEMA | Módulo de imágenes | 280 (ancho) x 630 (fondo) x 550 (alto) PC Todo en Uno preconfigurado con monitor de 27”. Software de análisis EDS y de imágenes SEM instalado |
| Peso | 60 kilogramos | |
| Zapatillas | Bomba turbomolecular con bomba de prevacío de membrana libre de aceite | |
| Modos de vacío | SEM de alto vacío (SEM convencional) y bajo vacío de 0,4 mbar (SEM de bajo vacío) |
Experimenta el NANOS
Etapa eucéntrica
La Etapa Eucéntrica del NANOS es verdaderamente la única de su tipo. Viene de serie con el NANOS. Los movimientos XY motorizados se pueden controlar a través de la interfaz de usuario. La inclinación de la muestra mientras está en modo SEM se puede realizar girando manualmente la platina. Gracias al diseño eucéntrico, la muestra permanece enfocada sin necesidad de cambios intermedios en la configuración SEM. La interfaz de usuario indica el ángulo de inclinación exacto. Las muestras se pueden inclinar hasta ángulos de 55 ̊.
Análisis elemental
El NANOS está equipado con un detector de deriva de silicio (SDD) de rayos X dispersivos de energía (EDX) totalmente integrado. A través de la interfaz de usuario, el operador puede seleccionar Análisis de puntos EDX o activar Mapeo elemental.
Detectores de electrones
El NANOS viene con un detector de electrones secundario (SED) y un detector de electrones retrodispersados (BSD) como estándar. El BSD es un detector de 4 cuadrantes con segmentos independientes totalmente controlables. Al utilizar los segmentos en diferentes combinaciones, proporciona detalles compositivos o topográficos de la muestra, así como imágenes con un "efecto de sombreado" al resaltar la superficie desde múltiples direcciones.
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