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TESCAN AMBER

EL TESCAN AMBER es un Microscopio Electrónico de Barrido de ultra alta resolución con cañón de iones de Galio focalizados TESCAN FIB/SEM modelo Amber GMH para preparación de muestras TEM,  análisis de interiores mediante cross sections y topografía 3D de alta resolución.


- Preparación de micro muestras de alta precisión.

- Imágenes SEM y nanoanálisis de ultra alta resolución

- Campo de visión ampliado y navegación sencilla

- Automatización de procesos en múltiples sitios

- Tomografía multimodal FIB-SEM

- Interfaz de usuario de software modular fácil de usar

- Atractivos paquetes opcionales para diversas aplicaciones

Características principales

· BrightBeam™ - nueva columna MEB equipada con un lente objetivo electrostático-magnético y diseño de 70° que brinda máxima versatilidad.

· Imágenes de ultra alta resolución libre de campo que resulta en una máxima versatilidad de escaneo imágenes y análisis, incluido el análisis de muestras magnéticas y escaneo simultaneo de imágenes MEB durante operaciones de FIB.
· El nuevo sistema de detección incluye el detector Axial en haz y el Multidetector los cuales permiten recolectar electrones de acuerdo al ángulo de emisión y su energía. De esta manera, se tiene un control total sobre la sensibilidad al escanear la superficie de la muestra además de que es posible explorar con diferentes contrastes lo permite obtener mayor información de la muestras bajo estudio.
· Orage™ - nueva columna FIB de fuente de iones de Ga de ultra alta resolución con excelente rendimiento en todo el rango de corrientes de haz de iones y energías de haz de iones de hasta 500 eV. Resolución < 2.5 nm a 30 keV.

· Calidad de clase mundial en preparación de muestras y con un excelente rendimiento a bajas energías de haz de iones ideales para la preparación de muestras para MET ultra finas y libre de daños.

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