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La microscopía RISE es una técnica de microscopía correlativa, desarrollada en 2015 por TESCAN y WITEC, que combina la microscopía con focal Raman con la microscopía SEM (RISE) en un sistema de microscopio integrado. Esta combinación única ofrece claras ventajas para el usuario de microscopio con respecto a la caracterización completa de la muestra: la microscopía electrónica es una técnica excelente para visualizar las estructuras de la superficie de la muestra en el rango nanométrico; combinada con EDX permite tener una composición elemental y el RAMAN no aportará los componentes químicos y moleculares de una muestra.
También puede generar imágenes 2D y 3D y perfiles de profundidad para visualizar la distribución de los compuestos moleculares dentro de una muestra. El microscopio RISE permite por primera vez la adquisición de imágenes SEM y Raman de la misma área de muestra y la correlación de información ultraestructural y química con un sistema de microscopio.
TESCAN RISE combina la microscopía con focal Raman con la microscopía SEM (RISE) en un sistema de microscopio integrado.