AFM IN SITU
Siguiente nivel de imágenes
Microscopio de fuerza atómica
diseñado para una fácil integración
en los microscopios electrónicos
de barrido
La plataforma de nanoindentación más versátil, rentable y de alto rendimiento del mundo para uso en SEM y en el aire in situ.
Valores añadidos
Análisis de muestras complejas
La tecnología única de imágenes correlativas multidimensionales permite la adquisición simultánea de datos de SEM y AFM , y su correlación perfecta en imágenes 3D.
Condiciones in situ
Todas las mediciones se realizan al mismo tiempo , en el mismo lugar y en las mismas condiciones , evitando la necesidad de transferencia de muestras y el riesgo de contaminación durante los análisis.
Localización precisa de la región de interés
Enfoque extremadamente preciso y que ahorra tiempo usando SEM para localizar y navegar el AFM a la región de interés.
Beneficios
Mejora de las capacidades SEM
AFM en SEM mejora las capacidades de ambas técnicas , lo que permite el análisis de muestras complejas de propiedades eléctricas , mecánicas y magnéticas dentro de SEM.
Máxima precisión de imágenes correlativas
La exclusiva tecnología de sonda correlativa y microscopía electrónica ( CPEM ) permite la adquisición y correlación simultáneas de los canales SEM y AFM elegidos .
Localización rápida y fácil de la región de interés
SEM ayuda a localizar rápidamente la región de interés y a navegar con precisión por la punta AFM.
Análisis in situ: sin riesgo de contaminación de la muestra
Las condiciones in situ dentro del SEM aseguran el análisis de muestras al mismo tiempo , en el mismo lugar y bajo las mismas condiciones .
Extensión de imagen SEM 2D a 3D
El contraste del material SEM se ve mejorado por la información sobre la topografía y la rugosidad 3D sub-nanométricas .
