Soluciones software para todas sus necesidades
Potentes herramientas para simplificar su flujo de trabajo
Zeiss Quality Suite: Centro de control de todas nuestras soluciones de software
Nuestra nueva interfaz central, GOM Suite, le brinda acceso directo a una gama cada vez mayor de soluciones de software de metrología 3D, que incluyen GOM Inspect, ZEISS Reverse Engineering (ZRE) y GOM Inspect Pro Line para ATOS Q.
Características de soporte
Entrenamiento Zeiss Quality Suite
GOM Suite le brinda acceso ilimitado al centro de capacitación GOM en constante evolución: una amplia gama de videos tutoriales de primer nivel y otros recursos útiles para llevar sus habilidades de escaneo 3D al siguiente nivel.
Foro Zeiss Quality Suite
¿Tiene alguna pregunta específica para otros profesionales de la metrología 3D como usted? Únase a debates interesantes y obtenga respuestas rápidas de la comunidad: GOM Suite es el nuevo punto de acceso a nuestros foros de metrología.
Guía técnica
Nuestro punto central de referencia para todas sus preguntas técnicas sobre nuestro software: la guía técnica de GOM cubre conceptos de software, flujos de trabajo de metrología y descripciones funcionales, personalizados para los sistemas que está utilizando.
ZEISS Quality Suite
El software de metrología 3D integral y centrado en el usuario hace que las tareas de inspección complejas parezcan simples. Es compatible con todo su flujo de trabajo, desde escanear, inspeccionar y editar mallas hasta analizar e informar.
Ingeniería inversa de ZEISS
¿Geométrica, de forma libre u orgánica? Sea cual sea la forma de una pieza, lleve sus datos de escaneo 3D al siguiente nivel convirtiéndolos en un modelo CAD de alta precisión con nuestra poderosa solución de software guiada para ingeniería inversa.
Línea Zeiss Quality Suite Inspect Pro para ATOS Q
Alcance nuevos niveles de velocidad, precisión, funcionalidad y manejo intuitivo con la actualización Pro Line de GOM Inspect para ATOS Q. Explore nuevas características como el seguimiento en vivo, la retroproyección y la combinación de escaneo y sondeo
