Accesorios para LiteScope™

• Sondas de autodetección y soportes de sonda
• Sondas basadas en diapasón
• Sondas piezorresistivas
• alambre conductor
• Módulo de nanoindentación
• Módulo de rotación de muestras
• NenoCase
• Mecanismo de bloqueo de carga
• Talones, herramientas y portamuestras

Sondas de autodetección y soportes de sonda

LiteScope admite una variedad de sondas de autodetección a través de soportes de sonda patentados .

LiteScope no está limitado por el uso de sondas AFM patentadas, sino que admite una amplia variedad de sondas de detección automática de otros fabricantes a través de soportes de sonda adecuados. La sonda AFM se puede insertar fácilmente en el soporte de sonda adecuado y luego acoplarse al aceptador de soporte universal de LiteScope, sin necesidad de tornillos ni herramientas.



Características clave

• Utilización de una variedad de sondas de autoenvío
• Reemplazo de sonda fácil y rápido
• Aceptador universal para diferentes soportes de sonda
• Diseños preestablecidos de NenoView SW para sondas individuales
• Hasta 3 señales de cliente de entrada/salida en el soporte de la sonda

Sondas basadas en diapasón

El uso del diapasón de cristal de cuarzo para la aplicación AFM se basa en el efecto de desafinación de resonancia de alto Q cuando la punta montada en el cuarzo oscilante se acerca a la superficie. Las sondas basadas en diapasón poseen muchas propiedades ventajosas, como alta rigidez, oscilación estable, accionamiento eléctrico directo y bajo costo.



Sondas piezorresistivas

Los voladizos de silicio con una resistencia piezoeléctrica integrada están disponibles en muchas especificaciones diferentes adecuadas para diversas aplicaciones. 

PRSA : con un puente de resistencia piezoeléctrica integrado y un calentador térmico para detección automática y activación automática.

PRS - con un puente de resistencia piezoeléctrica integrado, sin calentador térmico

Alambre conductor

Sonda básica para STM y medición local de tensión/corriente en modo nano manipulador.

Sondas y técnicas

Nanoindentador

El módulo de nanoindentación  es un nuevo módulo para el microscopio de fuerza atómica LiteScope. Permite realizar mediciones cuantitativas de las propiedades mecánicas de las muestras, combinadas con análisis AFM durante la observación en tiempo real en SEM. Todo el dispositivo se puede conectar y desconectar en cualquier momento,  ofreciendo la opción entre mediciones AFM + SEM correlacionadas regulares o una combinación única de  nanoindentador  y AFM, ambos en SEM.

Características clave

• Análisis integral mediante múltiples técnicas que permiten una comprensión compleja de las propiedades nanomecánicas en relación con la composición de la muestra y la topografía de la superficie.
• Caracterización de nanoindent con análisis topográfico de alta resolución y eficiente en el tiempo.
• Observación SEM en tiempo real utilizando SEM en paralelo que proporciona un control mejorado sobre las condiciones experimentales, así como imágenes y registro del proceso de nanoindentación.
• Las puntas de nanoindentación específicas aseguran el análisis cuantitativo de las propiedades mecánicas.
• El sistema modular permite un simple cambio entre configuraciones de AFM y nanoindentación.

Módulo de rotación de muestras

El módulo de rotación de muestras para AFM-in-SEM LiteScope permite montar varias muestras en la cámara SEM simultáneamente y realizar sus mediciones correlativas de AFM y SEM sin abrir la cámara. El módulo de rotación también es extremadamente útil para los procedimientos de fresado FIB seguidos de un análisis AFM.



Características clave

• Análisis de múltiples muestras:  el  módulo  LiteScope admite  varias muestras que se pueden  analizar  sin  necesidad de abrir la cámara SEM
• Área de escaneo extendida  :  la capacidad de rotar las muestras permite analizar muestras en el área con un diámetro de hasta 2 cm.
• Posicionamiento exacto de la muestra  :  fresado FIB optimizado y orientación ajustable de la muestra con respecto al escaneo y análisis de técnicas SEM 

NenoCase

NenoCase  es un nuevo accesorio para un microscopio de fuerza atómica LiteScope. NenoCase no es solo un estuche de almacenamiento fácil de usar, sino que también brinda nuevas posibilidades que permiten que LiteScope funcione como un dispositivo independiente. Incorpora un sistema antivibración pasivo para garantizar imágenes de alta calidad fuera de la cámara SEM .

NenoCase se puede purgar con diferentes gases utilizados para mediciones en diferentes atmósferas.

Características clave

• Almacenamiento de LiteScope en vacío o ambiente desecado para eliminar la adsorción de agua no deseada durante el almacenamiento fuera de SEM.
• Operación completa de LiteScope fuera de SEM en vacío o en varias atmósferas.
• Equipado con protección pasiva contra vibraciones.
• Posibilidad de utilizar atmósferas controladas como N2, Ar, etc.
• Nivel de plataforma ajustable.
• El diseño transparente de la cubierta superior permite el uso de un microscopio óptico o estereoscópico para encontrar estructuras o navegar con la punta.

NenoCase con cámara

Una cámara digital con un soporte hecho a medida es un accesorio opcional de NenoCase que permite una navegación precisa de la punta óptica AFM en la superficie de la muestra. El control de la cámara está integrado directamente en el software NenoView, lo que permite una larga distancia de trabajo.

Mecanismo de bloqueo de carga

El mecanismo de bloqueo de carga de LiteScope ofrece la posibilidad de cargar muestras y sondas en LiteScope utilizando un sistema estándar de transferencia de muestras de bloqueo de aire/bloqueo de carga SEM . ​

El bloqueo de carga es un accesorio opcional para LiteScope, que permite un intercambio rápido y fácil de muestras y/o sondas AFM sin necesidad de interrumpir el alto vacío en la cámara SEM.



El sistema de carga semiautomático consta de dos brazos de adaptación:

• El adaptador de carga de muestras permite cargar muestras directamente en el cabezal de escaneo LiteScope mediante el movimiento manual del brazo de transferencia SEM.
• El adaptador de carga de la sonda permite intercambiar cómodamente la sonda junto con el soporte de la sonda.

Características/ventajas clave​

• Reducción del tiempo de cambio de muestra/sonda
• No es necesario abrir ni ventilar la cámara SEM para el intercambio de muestras o sondas
• Operación simple a través de NenoView SW
• Se puede utilizar con sistemas manuales estándar SEM Air-lock / Load-lock
• Carga/descarga semiautomática de ​muestras​ y variedad de sondas AFM​

Talones, herramientas y portamuestras

LiteScope es compatible con muchos stubs SEM estándar; sin embargo, se pueden adaptar talones personalizados, portamuestras o una variedad de herramientas especializadas para aplicaciones específicas de AFM en SEM.

El enfoque AFM-in-SEM brinda acceso a mediciones y aplicaciones que no eran posibles con sistemas AFM y SEM separados.

Desde la etapa calentada/enfriada para, por ejemplo, aplicaciones de ciencias de la vida hasta un microensayo de tracción para, por ejemplo, la caracterización de metales, infórmenos sobre sus requisitos para poder aprovechar al máximo el concepto AFM-in-SEM.