Modos de medición de LiteScope™

Propiedades mecánicas de los materiales

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

AFM permite mediciones de alta resolución de una amplia gama de muestras.

Se pueden utilizar diferentes tipos de voladizos autosensibles. Las mediciones se pueden realizar en modo contacto o golpeteo.

Disipación de energía

La disipación de energía proporciona imágenes de las propiedades elásticas locales del material. Gracias a la utilización del modo de roscado AFM, el riesgo de daño de la muestra se minimiza en comparación con FMM. La información de disipación de energía se lee de la amplitud de la señal de accionamiento.

Microscopía de modulación de fuerza (FMM)

FMM permite obtener imágenes de las propiedades elásticas locales de la muestra. Este método mide simultáneamente la topografía y la respuesta mecánica del material a las oscilaciones del voladizo excitado mecánicamente. La amplitud y la fase de la señal demodulada contienen información sobre la elasticidad local.

Nanoindentación

Método ampliamente utilizado para la caracterización de la dureza de materiales. La dureza de la muestra se determina a partir de la profundidad del perfil de indentación y la fuerza utilizada.

Curvas fuerza-distancia

La espectroscopia F/z es una herramienta útil para la caracterización precisa de muestras locales. La espectroscopia se utiliza para muchos propósitos, como un análisis de rigidez de la muestra, el progreso detallado de la fuerza de la punta de la superficie o la determinación de la elasticidad/plasticidad local.

Nanomanipulación

La manipulación mecánica y electrostática permite el movimiento in situ de las partículas con precisión nanométrica. Se puede usar en lugar de o con nanomanipuladores SEM para operaciones in situ complejas.

Propiedades eléctricas de los materiales

AFM conductivo (C-AFM)

El AFM conductivo proporciona un mapa de conductividad local de alta resolución de la muestra. El sesgo de voltaje se aplica entre la punta y la muestra y el flujo de corriente entre la punta y la muestra se mide durante la medición de la topografía AFM de contacto.

CPEM conductivo (C-CPEM)

El exclusivo CPEM conductivo permite realizar mediciones de conductividad incluso en áreas aisladas de la muestra.  El haz de electrones a la distancia constante de la punta reemplaza la necesidad de una polarización aplicada en el área medida, pero la polarización de la muestra de la punta todavía se puede aplicar simultáneamente. Durante el escaneo, el flujo de corriente punta-muestra se mide en el modo AFM de contacto.

Microscopía de fuerza con sonda Kelvin (KPFM)

KPFM estima la distribución local de los potenciales de superficie. En primer lugar, se mide la topografía en el modo AFM de tapping. En segundo lugar, se levanta la sonda y se minimiza la oscilación de la sonda (AM-KPFM) o el cambio de frecuencia resonante (FM-KPFM) mediante la aplicación de voltaje de CC en un circuito de retroalimentación.

Modos de espectroscopia

LiteScope™ proporciona una amplia gama de técnicas espectroscópicas complejas. Los modos de espectroscopia permiten medir la dependencia de la cantidad seleccionada en el tiempo, el sesgo de voltaje, la distancia de la punta a la muestra, la corriente del haz de electrones, etc. Todo el proceso puede ser monitoreado por SEM para la ubicación exacta de la punta en la muestra.

Microscopía de túnel de barrido (STM)

STM permite la medición de muestras conductoras o semiconductoras con resolución subnanométrica. Se aplica la tensión de polarización y se mide la corriente de tunelización punta-muestra. STM proporciona información topográfica sobre la muestra. Las mediciones se realizan en modo de corriente constante o altura constante.

Microscopía de fuerza de respuesta piezoeléctrica (PFM)

PFM permite obtener imágenes y manipular dominios de materiales piezoeléctricos. Este método mide simultáneamente la topografía y la respuesta mecánica del material al voltaje alterno aplicado. La amplitud y la fase de la señal demodulada contienen información sobre la piezorrespuesta local.

Microscopía de fuerza magnética (MFM)

La microscopía de fuerza magnética (MFM) es un modo de imagen secundario que mapea el gradiente de fuerza magnética sobre la superficie de la muestra y, al mismo tiempo, obtiene datos topográficos.

Aplicación potencial : grabación magneto-óptica, lógica magnética y sistemas de almacenamiento de datos.